企業(yè)在進(jìn)行首件測(cè)試時(shí)，通常會(huì)根據(jù)不同的生產(chǎn)需求選擇不同的測(cè)試方法，其中FAI首件測(cè)試系統(tǒng)和AOI測(cè)試是企業(yè)常用的測(cè)試方法，我們將看看它們之間的差異。

　　1.首件檢測(cè)儀

　　首件檢測(cè)儀是針對(duì)生產(chǎn)前教育第一塊板，AOI一般可以用于進(jìn)行最后品控，單從技術(shù)檢測(cè)工作效率方面來(lái)說(shuō)，首件檢測(cè)儀會(huì)比AOI檢測(cè)快，并且板的點(diǎn)數(shù)越多，差距越來(lái)越大。在穩(wěn)定性方面，第一測(cè)試器FAI-E680比AOI測(cè)試更穩(wěn)定。

　　首件檢測(cè)儀是生產(chǎn)線前做的，一般是在換線或者換產(chǎn)品的時(shí)候可以使用情況較多，原理是通過(guò)進(jìn)行掃描技術(shù)需要我們檢測(cè)的SMT貼片首件PCB，智能框獲取PCB實(shí)物控制掃描電子圖片，導(dǎo)入BOM清單和PCB元件以及貼片位置坐標(biāo)。

　　2.AOI檢測(cè)

　　AOI檢測(cè)是對(duì)產(chǎn)品走下生產(chǎn)線時(shí)的最終發(fā)展?fàn)顟B(tài)信息進(jìn)行管理監(jiān)控，簡(jiǎn)單的說(shuō)就是一個(gè)光學(xué)檢測(cè)儀，原理分析就是企業(yè)通過(guò)三色光的組合方式反映到機(jī)臺(tái)和我們需要設(shè)置的參數(shù)的對(duì)比研究顯示給我們?nèi)搜劭吹模撬荒軌蛲瑫r(shí)通過(guò)影響外觀檢測(cè)電路板的好壞，比如說(shuō)短路，少錫，缺件等等這些現(xiàn)象，但是像元件工作本身的不良它就檢測(cè)不出來(lái)。當(dāng)然，AOI也可以進(jìn)行檢測(cè)首件，但是工作效率等各方面都非常嚴(yán)重欠缺、比如BOM導(dǎo)入、測(cè)值等。